本文运用美国滨州大学开发的微光电子结构分析模型AMPS(Analysis of Microelectronic and Photonic Structures)模拟分析了pin 型非晶硅
薄膜太阳电池p/i 和i/n 界面态对电池性能的影响。分析模拟结果发现,pin 型非晶硅电池的p/i 界面,其重要性要远远高于i/n 界面,因此在实际生产中应当更加
注重p/i 界面的工艺控制和开发新的界面处理工艺。随后改变p/i 界面处的缺陷态密度,并模拟计算出电池性能参数,并据此对实际生产提出了可行性建议。