光伏组件IEC62804检测报告PID测试抗电势诱导衰减

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 光伏组件IEC62804检测报告PID测试抗电势诱导衰减
DIN IEC/TS 62804-1-2017

光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

IEC62804标准的双85抗PID测试（测试条件为±1000V电压，85摄氏度、85%相对湿度，96小时）

IEC62804标准的双85抗PID测试（测试条件为±1500V电压，85摄氏度、85%相对湿度，192小时）

光伏组件卓越的抗PID性能确保了组件的高质量和高可靠性，保证了光伏电站的稳定运行，特别是保障了电站在高温潮湿等特殊气候条件下25年生命周期内的平稳运作。

我司（安博检测）测试项目：LID光致衰减，PID(抗电势诱导衰减)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

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光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)